IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
收录 579 篇论文，累计被引 4,571 次，出版年份 2011–2025。
- 收录篇数
- 579
- 总被引
- 4,571
- 篇均被引
- 7.9
- 单篇最高被引
- 154
- 年份区间
- 2011–2025
- 近五年篇数
- 172
逐年收录分布
近 15 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。
查看数据表
| 年份 | 篇数 | 占比 |
|---|---|---|
| 2025 | 16 | 2.8% |
| 2024 | 42 | 7.3% |
| 2023 | 46 | 7.9% |
| 2022 | 31 | 5.4% |
| 2021 | 37 | 6.4% |
| 2020 | 37 | 6.4% |
| 2019 | 34 | 5.9% |
| 2018 | 23 | 4.0% |
| 2017 | 39 | 6.7% |
| 2016 | 30 | 5.2% |
| 2015 | 44 | 7.6% |
| 2014 | 51 | 8.8% |
| 2013 | 51 | 8.8% |
| 2012 | 42 | 7.3% |
| 2011 | 56 | 9.7% |
代表作
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