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Proceedings - Asian Test Symposium/Proceedings

收录 2,009 篇论文，累计被引 14,839 次，出版年份 1995–2025。

收录篇数
2,009
总被引
14,839
篇均被引
7.4
单篇最高被引
268
年份区间
1995–2025
近五年篇数
156

逐年收录分布

近 27 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。

02605191995 年：1 篇19951997 年：1 篇2001 年：1 篇2002 年：519 篇2003 年：173 篇20032004 年：2 篇2005 年：161 篇2006 年：65 篇2007 年：185 篇20072008 年：67 篇2009 年：76 篇2010 年：74 篇2011 年：90 篇20112012 年：62 篇2013 年：56 篇2014 年：61 篇2015 年：37 篇20152016 年：60 篇2017 年：48 篇2018 年：38 篇2019 年：34 篇20192020 年：42 篇2021 年：25 篇2022 年：29 篇2023 年：42 篇20232024 年：55 篇2025 年：5 篇2025
纵轴为当年收录篇数；峰值 519 篇（2002 年）。
查看数据表
年份篇数占比
202550.2%
2024552.7%
2023422.1%
2022291.4%
2021251.2%
2020422.1%
2019341.7%
2018381.9%
2017482.4%
2016603.0%
2015371.8%
2014613.0%
2013562.8%
2012623.1%
2011904.5%
2010743.7%
2009763.8%
2008673.3%
20071859.2%
2006653.2%
20051618.0%
200420.1%
20031738.6%
200251925.8%
200110.0%
199710.0%
199510.0%

代表作

  1. 0
    A SmartBIST variant with guaranteed encoding ↗

    2002 年 · 被引 268 次

  2. 1
    On-Chip TSV Testing for 3D IC before Bonding Using Sense Amplification ↗

    2009 年 · 被引 147 次

  3. 2
    Resource allocation and test scheduling for concurrent test of core-based SOC design ↗

    2002 年 · 被引 145 次

  4. 3
    An experimental analysis of spot defects in SRAMs: realistic fault models and tests ↗

    2002 年 · 被引 143 次

  5. 4
    A gated clock scheme for low power scan testing of logic ICs or embedded cores ↗

    2002 年 · 被引 141 次

  6. 5
    Timing-Aware ATPG for High Quality At-speed Testing of Small Delay Defects ↗

    2006 年 · 被引 136 次

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