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Proceedings - IEEE VLSI Test Symposium/Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium

收录 1,668 篇论文，累计被引 27,687 次，出版年份 1992–2026。

收录篇数
1,668
总被引
27,687
篇均被引
17
单篇最高被引
538
年份区间
1992–2026
近五年篇数
235

逐年收录分布

近 31 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。

01563111992 年：1 篇19921993 年：1 篇1995 年：2 篇1997 年：1 篇1998 年：1 篇19982000 年：1 篇2002 年：311 篇2003 年：234 篇2004 年：51 篇20042005 年：67 篇2006 年：74 篇2007 年：63 篇2008 年：56 篇20082009 年：51 篇2010 年：53 篇2011 年：51 篇2012 年：51 篇20122013 年：51 篇2014 年：50 篇2015 年：49 篇2016 年：55 篇20162017 年：35 篇2018 年：36 篇2019 年：45 篇2020 年：43 篇20202021 年：36 篇2022 年：41 篇2023 年：39 篇2024 年：52 篇20242025 年：55 篇2026 年：12 篇2026
纵轴为当年收录篇数；峰值 311 篇（2002 年）。
查看数据表
年份篇数占比
2026120.7%
2025553.3%
2024523.1%
2023392.3%
2022412.5%
2021362.2%
2020432.6%
2019452.7%
2018362.2%
2017352.1%
2016553.3%
2015492.9%
2014503.0%
2013513.1%
2012513.1%
2011513.1%
2010533.2%
2009513.1%
2008563.4%
2007633.8%
2006744.4%
2005674.0%
2004513.1%
200323414.0%
200231118.6%
200010.1%
199810.1%
199710.1%
199520.1%
199310.1%
199210.1%

代表作

  1. 0
    A distributed BIST control scheme for complex VLSI devices ↗

    2002 年 · 被引 538 次

  2. 1
    Time redundancy based soft-error tolerance to rescue nanometer technologies ↗

    2003 年 · 被引 500 次

  3. 2
    Circuit Failure Prediction and Its Application to Transistor Aging ↗

    2007 年 · 被引 454 次

  4. 3
    Static compaction techniques to control scan vector power dissipation ↗

    2002 年 · 被引 354 次

  5. 4
    Scan vector compression/decompression using statistical coding ↗

    2003 年 · 被引 264 次

  6. 5
    Functional memory faults: a formal notation and a taxonomy ↗

    2002 年 · 被引 206 次

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