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IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

收录 824 篇论文，累计被引 3,987 次，出版年份 1988–2026。

收录篇数
824
总被引
3,987
篇均被引
4.8
单篇最高被引
75
年份区间
1988–2026
近五年篇数
101

逐年收录分布

近 18 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。

0931861988 年：3 篇19882002 年：186 篇2003 年：83 篇2004 年：1 篇20042005 年：65 篇2006 年：39 篇2007 年：54 篇20072008 年：42 篇2009 年：41 篇2012 年：59 篇20122013 年：40 篇2018 年：38 篇2019 年：37 篇20192020 年：35 篇2022 年：32 篇2024 年：31 篇20242025 年：33 篇2026 年：5 篇2026
纵轴为当年收录篇数；峰值 186 篇（2002 年）。
查看数据表
年份篇数占比
202650.6%
2025334.0%
2024313.8%
2022323.9%
2020354.2%
2019374.5%
2018384.6%
2013404.9%
2012597.2%
2009415.0%
2008425.1%
2007546.6%
2006394.7%
2005657.9%
200410.1%
20038310.1%
200218622.6%
198830.4%

代表作

  1. 0
    Characterization of dielectric charging in RF MEMS capacitive switches ↗

    2006 年 · 被引 75 次

  2. 1
    A New Combined Methodology for Write-Margin Extraction of Advanced SRAM ↗

    2007 年 · 被引 74 次

  3. 2
    Ring oscillator based technique for measuring variability statistics ↗

    2006 年 · 被引 72 次

  4. 3
    New Y-function-based methodology for accurate extraction of electrical parameters on nano-scaled MOSFETs ↗

    2008 年 · 被引 70 次

  5. 4
    New method for parameter extraction in deep submicrometer MOSFETs ↗

    2002 年 · 被引 49 次

  6. 5
    A comparison of extraction techniques for threshold voltage mismatch ↗

    2003 年 · 被引 47 次

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